Форум: Выбор оборудования

Тема: Встроенный самоконтроль / самодиагностика крейтовой системы LTR

Вы не вошли.

 Поиск | Регистрация | Вход 

22.12.2015 08:59:55
#1

Участник
Откуда: г.Уфа
Здесь с 20.05.2014
Сообщений: 102

Встроенный самоконтроль / самодиагностика крейтовой системы LTR

Пож. подскажите: имеется ли в крейтовой системе LTR возможность использовать встроенный самоконтроль / самодиагностику крейта и модулей.

Вопрос исходит из п-та ТЗ:

В системе должно быть предусмотрено диагностирование связей и функционирования микропроцессорных средств измерения и контроля путем тестирования микропроцессорных устройств как в системе в целом, так и в отдельных подсистемах.

Как бы посоветовали выполнить данное требование разработчики аппаратуры и ПО LTR?

Спасибо.

22.12.2015 10:35:58
#2

Инженер-электронщик
Откуда: "Л Кард"
Здесь с 21.04.2014
Сообщений: 4,598

Re: Встроенный самоконтроль / самодиагностика крейтовой системы LTR

1. Если речь идёт об имеющихся  штатных средствах самоконтроля в LTR, то это, прежде всего, индексный формат данных с контролем формата на принимающей стороне. Кроме того, в модулях вывода LTR42, LTR43, LTR34  это может быть  контроль выданных данных.
В крейт-контроллере LTR важным средством от зависания Blackfin является сторожевой таймер.

2. Если речь идёт о контроле цепей датчиков, то он есть в модулях LTR11, LTR24, LTR25. А для остальных модулей контроль цепей датчиков может быть организован тем или иным способом, в зависимости от схемы измерительной цепи.

3. Если идёт о внедрении каких-то дополнительных средств самоконтроля в крейт контроллер,  в ПО модулей и на верхний программный уровень, то здесь технически возможны дополнительные меры самодиагностики системы - в зависимости от конфигурации модулей в крейте,  а также от схемы подключения.

22.12.2015 18:51:23
#3

Инженер-электронщик
Откуда: "Л Кард"
Здесь с 21.04.2014
Сообщений: 4,598

Re: Встроенный самоконтроль / самодиагностика крейтовой системы LTR

Леонид пишет:

Вопрос исходит из п-та ТЗ:
В системе должно быть предусмотрено диагностирование связей и функционирования микропроцессорных средств измерения и контроля путем тестирования микропроцессорных устройств как в системе в целом, так и в отдельных подсистемах.
Как бы посоветовали выполнить данное требование разработчики аппаратуры и ПО LTR?

Если с формальной точки зрения, то из этой формулировки ТЗ совершенно неясно:  в какое время должно осуществляться эта диагностика (при производстве, при подготовке к эксплуатации или при техобслуживании, или во время эксплуатации налету, не прерывая измерения?) и кем она должна осуществляться.  Например, у "Л Кард" имеются детальные заводские тесты LTR в рамках заводской технологии производства LTR. Если "Л Кард" подтвержает, что  эти тесты при производстве пройдены, то Ваше ТЗ уже выполнено (в части требований к LTR)?  smile


К сказанному в предыдущем посте добавлю:
4. Контроль данных АЦП по временным меткам LTR.


Возможны ведь и средства функционального контроля на верхнем программном уровне вне зависимости от встроенных средств LTR:
- Контроль параметров сигналов АЦП во временной области.
- Контроль параметров сигналов АЦП в частотной области.
- Контроль по вычисленным параметрам статистики (для случайных сигналов).
- Контроль параметров по каналу, выполняющего роль контрольного.
- Различные варианты контроля по дублированным каналам измерения.
- Контроль по времени задержки сигналов в разных каналов. 
- Контроль по корреляционным функциям при совместной обработке сигналов разных каналов.
- ...И далее, привязываясь к физическому смыслу и ожидаемым свойствам  обрабатываемых сигналов...

Контакты

Адрес: 117105, Москва, Варшавское шоссе, д. 5, корп. 4, стр. 2

Многоканальный телефон:
+7 (495) 785-95-25
Факс: +7 (495) 785-95-14

Отдел продаж: sale@lcard.ru
Техническая поддержка: support@lcard.ru

Время работы: с 9-00 до 19-00 мск

L-CARD в проектах